超聲波探傷儀如何檢測(cè)缺陷大小

利用超聲波探傷儀試塊繪出的距離-波幅-當(dāng)量曲線（即實(shí)用AVG）來對(duì)缺陷定量是目前常用的定量方法之一。特別是3N以內(nèi)的缺陷，采用試塊比較法仍然是有效的定量方法。此外還可利用試塊來測(cè)量材料的聲速、衰減性能等。

餅形鍛件直探頭檢測(cè)方法
鍛件按其形狀不同可分為軸形鍛件、餅形鍛件、碗形鍛件和筒形鍛件．各種形狀鍛件的鍛造工藝都有不同的特點(diǎn)，餅形鍛件的鍛造工藝主要以鐓粗為主，超聲波探傷儀缺陷的分布主要平行于端面，所以用直探頭在任意一個(gè)端面進(jìn)行探測(cè)是檢出這種缺陷的好方法，但與端面有較大角度的徑向缺陷則需要采用直探頭從外圓面進(jìn)行檢測(cè)。

餅形鍛件通常采用手工面接接觸法進(jìn)行檢測(cè)
(1)點(diǎn)狀單個(gè)小缺陷：缺陷波和底波共存，且底波變化不大。
(2)密集性小缺陷：在一定的面積或體積內(nèi)存在點(diǎn)狀缺陷的個(gè)數(shù)，JB/T4730.3—2005對(duì)密集區(qū)的定義是：在熒光屏掃描線相當(dāng)丁50 mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)；或是在50mm×50 mm的檢測(cè)面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范同內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)。其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準(zhǔn)反射波幅。
(3)平行于表面的面狀大缺陷：沒有底波，只有缺陷的多次反射波。
(4)與表面傾斜的面狀大缺陷：底波將明顯降低，也存在缺陷反射回波。